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集成電路金屬外殼目檢標準
集成電路金屬外殼目檢標準 現行
Visual inspection criteria for integrated circuits metal packages
標準號：SJ 20802-2001
基本信息
標準號：SJ 20802-2001
發布時間：2001-12-27
實施時間：2002-01-01
首發日期：
出版單位：中國電子技術標準化研究所查看詳情>
起草人：雷劍、陸純蘭、馮玲玲、吳凡、張崎
出版機構：中國電子技術標準化研究所
標準分類： 微電路綜合
起草單位：信息產業部電子第四十三研究所
歸口單位：信息產業部電子第四研究所
發布部門：中華人民共和國信息產業部
標準簡介
本標準規定了軍用集成電路金屬外殼（包括底座和蓋板）的外觀目的要求。本標準適用于軍用集成電路金屬外殼的制造和檢驗，也適用于半導體分立器件金屬外殼的制造和檢驗。
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