電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法 體積電阻率測試方法 現行
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for volume resistivity
標準號：GB 5594.5-1985
基本信息
標準號：GB 5594.5-1985
發布時間：1985-01-01
實施時間：1986-01-02
首發日期：1985-11-27
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：王明珍、趙小偉
出版機構：中國標準出版社
提出單位：中華人民共和國電子工業部
起草單位：南京電子管廠
歸口單位：信息產業部（電子）
發布部門：信息產業部（電子）
主管部門：信息產業部（電子）
標準簡介
本標準適用于電子元器件結構陶瓷在室溫至500°C范圍體積電阻率的測定。
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