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黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法 現行

Analysis method for gold products with X-ray EDS in SEM

標準號：GB/T 17362-2008

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基本信息

標準號：GB/T 17362-2008
發布時間：2008-09-18
實施時間：2009-05-01
首發日期：1998-05-08
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：劉安生、張宜、毛允靜
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 電化學、熱化學、光學式分析儀器
ICS分類：有關化學分析方法的其他標準
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會
起草單位：北京有色金屬研究總院、核工業總公司北京地質研究院，北京鋼鐵研究總院
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會

標準簡介

本標準代替GB/T 17362-1998《黃金飾品的掃描電鏡Ｘ 射線能譜分析方法》和GB/T 17723-1999《黃金制品鍍層成分的Ｘ 射線能譜測量方法》兩個標準。本標準規定了用配置在掃描電鏡上的X射線能譜儀對黃金制品化學成分進行無損定量分析的方法和技術要求。本標準與GB/T 17362-1998和GB/T 17723-1999兩個標準相比主要修改如下：———將適用范圍進行了合并，使其能分別適用于不同含金量的Ｋ 金制成的黃金制品和表面有含金鍍層的鍍金制品的鍍層成分的測定這兩種情況；———將原來兩個標準的相關章節，刪去重復的部分，對不同的部分進行整理加工形成新的文本；———刪去了GB/T 17723中“術語”這一節；———原標準中“飾品”一律改為“制品”；———本標準不再規定選用的校正程序，操作人員可根據實際分析的試樣，自行選擇采用；———著重強調測定鍍層制品時，工作電壓的選擇，這是對鍍層成分能否測準的關鍵所在。

標準摘要

本標準代替GB/T17362-1998《黃金飾品的掃描電鏡X 射線能譜分析方法》和GB/T17723-1999《黃金制品鍍層成分的X 射線能譜測量方法》兩個標準。
本標準與GB/T17362-1998和GB/T17723-1999兩個標準相比主要修改如下:
---將適用范圍進行了合并,使其能分別適用于不同含金量的K 金制成的黃金制品和表面有含金鍍層的鍍金制品的鍍層成分的測定這兩種情況;
---將原來兩個標準的相關章節,刪去重復的部分,對不同的部分進行整理加工形成新的文本;
---刪去了GB/T17723中術語這一節;
---原標準中飾品一律改為制品;
---本標準不再規定選用的校正程序,操作人員可根據實際分析的試樣,自行選擇采用;
---著重強調測定鍍層制品時,工作電壓的選擇,這是對鍍層成分能否測準的關鍵所在。
本標準的附錄A 為規范性附錄。
本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出。
本標準由全國微束分析標準化技術委員會歸口。
本標準起草單位:北京有色金屬研究總院、核工業總公司北京地質研究院、北京鋼鐵研究總院。
本標準主要起草人:劉安生、張宜、毛允靜。
本標準所代替標準的歷次版本發布情況為:
---GB/T17362-1998;
---GB/T17723-1999。

替代情況

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引用標準

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采標情況

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