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微束分析 電子背散射衍射 平均晶粒尺寸的測(cè)定 即將實(shí)施

Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 38532-2020

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 38532-2020
發(fā)布時(shí)間：2020-03-06
實(shí)施時(shí)間：2021-02-01
首發(fā)日期：
起草人：姚雷、張作貴、曾毅、鄭芳。
起草單位：中國寶武鋼鐵集團(tuán)有限公司、上海發(fā)電設(shè)備成套設(shè)計(jì)研究院、中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所。
歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
主管部門：國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

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