納米技術 碳納米管中雜質元素的測定 電感耦合等離子體質譜法 現行
Nanotechnologies—Determination of elemental impurities in samples of carbon nanotubes—Inductively coupled plasma mass spectrometry
標準號：GB/T 35418-2017
基本信息
標準號：GB/T 35418-2017
發布時間：2017-12-29
實施時間：2018-04-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：白茹、陳春英、李柏、李玉鋒、趙宇亮
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎學科綜合
ICS分類：分析化學
提出單位：中國科學院
起草單位：國家納米科學中心、中國科學院高能物理研究所
歸口單位：全國納米技術標準化技術委員會(SAC/TC 279)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：中國科學院
標準簡介
本標準規定了使用電感耦合等離子體質譜（ICP-MS）測定單壁碳納米管（SWCNT）和多壁碳納米管（MWCNT）中殘留雜質元素的方法。 本標準為單壁碳納米管和多壁碳納米管樣品提供了優化的消解和預處理方法，從而應用電感耦合等離子體質譜準確定量測定雜質元素。
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