
Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products - Combined high and low temperature/low air pressure testing equipments
標準號:GB/T 5170.10-2008
基本信息
標準號:GB/T 5170.10-2008
發布時間:2008-06-16
實施時間:2009-03-01
首發日期:1985-05-07
出版單位:中國標準出版社查看詳情>
起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良
作廢日期:2018-07-01
出版機構:中國標準出版社
標準分類: 基礎標準與通用方法
ICS分類:環境試驗
提出單位:全國電工電子產品環境條件與環境試驗標準化技術技術委員會(SAC/TC 8)
起草單位:信息產業部電子第五研究所
歸口單位:全國電工電子產品環境條件與環境試驗標準化技術委員會
發布部門:中國電器工業協會
主管部門:全國電工電子產品環境條件與環境試驗標準化技術技術委員會(SAC/TC 8)
標準簡介
本部分規定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于對GB/T 2423.21《電工電子產品基本環境試驗規程 試驗M:低氣壓試驗方法》、GB/T 2423.25《電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法》和GB/T 2423.26《電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設備的首次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。
標準摘要
GB/T5170目前包含以下幾部分: ---GB/T5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則 ---GB/T5170.2-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備 ---GB/T5170.5-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備 ---GB/T5170.8-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 鹽霧試驗設備 ---GB/T5170.9-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 太陽輻射試驗設備 ---GB/T5170.10-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設備 ---GB/T5170.11-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設備 ---GB/T5170.13-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 振動(正弦)試驗用機械振動臺 ---GB/T5170.14-1985 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 振動(正弦)試驗用電動振動臺 ---GB/T5170.15-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 振動(正弦)試驗用液壓振動臺 ---GB/T5170.16-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 穩態加速度試驗用離心機 ---GB/T5170.17-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設備 ---GB/T5170.18-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度/濕度組合循環試驗設備 ---GB/T5170.19-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度/振動(正弦)綜合試驗設備 ---GB/T5170.20-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 水試驗設備 本部分是GB/T5170的第10部分。 本部分代替GB/T5170.10-1996。與GB/T5170.10-1996相比,技術內容主要有如下變化: ---標準名稱電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 高低溫低氣壓試驗設備更改為電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設備; ---所有用詞檢定更改為檢驗; ---增加了術語和定義一章; ---增加了溫度波動度檢驗項目; ---增加了溫度均勻度檢驗項目; ---檢驗項目綜合檢定溫度平均變化速率更改為綜合檢驗每5min溫度平均變化速率; ---增加了溫度指示誤差檢驗項目; ---增加了氣壓指示誤差檢驗項目; ---增加了溫度過沖量檢驗項目; ---增加了溫度過沖恢復時間檢驗項目; ---增加了噪聲檢驗項目; ---在檢驗用主要儀器及要求一章中,給出了測量系統其測量結果的擴展不確定度(k=2)的要求; ---增加了檢驗負載一章; ---測量數據記錄改為每一分鐘記錄一次數據; ---刪除了檢定過程中的處理部分; ---增加了附錄A檢驗項目的選擇。 附錄A 為規范性附錄。 本部分由全國電工電子產品環境條件與環境試驗標準化技術技術委員會(SAC/TC8)提出并歸口。 本部分起草單位:信息產業部電子第五研究所。 本部分主要起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。 本部分所代替標準的歷次版本發布情況為: ---GB/T5170.10-1985; ---GB/T5170.10-1996。 |
標準目錄
前言Ⅲ 1 范圍1 2 規范性引用文件1 3 術語和定義1 4 檢驗項目1 5 檢驗用主要儀器及要求2 6 檢驗負載2 7 檢驗條件2 8 檢驗方法2 9 數據處理結果與檢驗結果7 10 檢驗周期7 附錄A (規范性附錄) 檢驗項目的選擇8 |
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