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半導(dǎo)體器件 集成電路 第4部分：接口集成電路 第二篇：線性模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器（ADC）空白詳細(xì)規(guī)范 現(xiàn)行

Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 4:Interface integrated circuits--Section 2:Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters(ADC)

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 18500.2-2001

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 18500.2-2001
發(fā)布時間：2001-01-01
實施時間：2002-06-01
首發(fā)日期：2001-11-05
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：
出版機構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 半導(dǎo)體集成電路
ICS分類：集成電路、微電子學(xué)
起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局
主管部門：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際電工委員會（IEC）標(biāo)準(zhǔn)IEC 748-4-2：1993《半導(dǎo)體器件 集成電路 第4部分：接口集成電路 第二篇：線性模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器（ADC）空白詳細(xì)標(biāo)準(zhǔn)》，以促進我國該類產(chǎn)品的國際貿(mào)易、技術(shù)和經(jīng)濟交流。本標(biāo)準(zhǔn)可作為編制線性ADC詳細(xì)規(guī)范的依據(jù)。IEC電子器件質(zhì)量評定體系遵循IEC的章程并在IEC授權(quán)下進行工作。該體系的目的是確定質(zhì)量評定程序，以這種方式使一個參加國按有關(guān)規(guī)范要求放行的電子器件無需進一步試驗而為其所有參加國同樣接受。本空白詳細(xì)規(guī)范是半導(dǎo)體器件的一系列空白詳細(xì)規(guī)范之一，并且與下列IEC標(biāo)準(zhǔn)一起使用。IEC 747-10/QC 700000 半導(dǎo)體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范IEC 748-11/QC 790100 半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分：半導(dǎo)體集成電路（不包括混合電路）分規(guī)范

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