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光學(xué)晶體應(yīng)力雙折射 測(cè)量方法 修訂

Measuring method for stress-birefringence of optical crystal

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JB/T 9495.4-1999

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：JB/T 9495.4-1999
發(fā)布時(shí)間：1999-08-06
實(shí)施時(shí)間：2000-01-01
首發(fā)日期：
出版單位：機(jī)械工業(yè)出版社查看詳情>
起草人：王維民
出版機(jī)構(gòu)：機(jī)械工業(yè)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 儀器、儀表用材料和元件
ICS分類：  17.180;31.030
提出單位：儀表功能材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
起草單位：北京玻璃研究所
歸口單位：儀表功能材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門：國(guó)家機(jī)械工業(yè)局

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)適用于立方晶體的應(yīng)力雙折射側(cè)量，包括定性、定量?jī)煞N測(cè)量方法。

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