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靜電復印感光體表面缺陷 測量方法 已作廢

Standard test method for surface defect of photoconductor for electrostatic process

標準號：JB/T 8268-1999

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基本信息

標準號：JB/T 8268-1999
發布時間：1999-08-06
實施時間：2000-01-01
首發日期：
出版單位：機械工業出版社查看詳情>
起草人：
作廢日期：2015-10-01
出版機構：機械工業出版社
標準分類： 縮微復印機械
歸口單位：全國復印機械標委會
發布部門：國家機械工業局

標準簡介

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