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太陽能電池用硅片翹曲度和波紋度測試方法 現行

Test method for warp and waviness of silicon wafers for solar cells

標準號：GB/T 30859-2014

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基本信息

標準號：GB/T 30859-2014
發布時間：2014-07-24
實施時間：2015-04-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：薛抗美、夏根平、孫燕、林清香、徐自亮、黃黎
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 金屬物理性能試驗方法
ICS分類：金屬材料試驗
提出單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC203)及材料分技術委員會(SAC/TC203/SC2)
起草單位：江蘇協鑫硅材料科技發展有限公司、瑟米萊伯貿易(上海)有限公司、有研半導體材料股份有限公司
歸口單位：全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC203)及材料分技術委員會(SAC/TC203/SC2)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會

標準簡介

本標準規定了太陽能電池用硅片(以下簡稱硅片)翹曲度和波紋度的測試方法。本標準適用于硅片翹曲度和波紋度的測試。

標準摘要

本標準按照 GB/T1.1—2009 給出的規則起草。
本標準由全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC203)及材料分技術委員會(SAC/TC203/SC2)共同提出并歸口。
本標準起草單位:江蘇協鑫硅材料科技發展有限公司、瑟米萊伯貿易(上海)有限公司、有研半導體材料股份有限公司。
本標準主要起草人:薛抗美、夏根平、孫燕、林清香、徐自亮、黃黎。

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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