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微束分析 掃描電子顯微術(shù) 圖像銳度評(píng)估方法 現(xiàn)行

Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Methods of evaluating image sharpness

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 33838-2017

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 33838-2017
發(fā)布時(shí)間：2017-05-31
實(shí)施時(shí)間：2018-04-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：丁澤軍、阮矚
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)： 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類(lèi)：化學(xué)分析
提出單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 38)
起草單位：中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)物理學(xué)院
歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 38)
發(fā)布部門(mén)：中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門(mén)：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 38)

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于評(píng)估掃描電子顯微鏡（SEM）生成的數(shù)字圖像銳度的3種方法：傅立葉變換（FT）法、襯度?梯度（CG）法、導(dǎo)數(shù)（DR）法。

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