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厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 固體含量測定 已作廢

Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 17473.1-1998

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 17473.1-1998
發(fā)布時間：1998-08-19
實施時間：1999-03-01
首發(fā)日期：1998-08-19
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：
作廢日期：2008-09-01
出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 貴金屬及其合金分析方法
ICS分類：金屬材料試驗綜合
起草單位：昆明貴金屬研究所
歸口單位：全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布部門：國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
主管部門：中國有色金屬工業(yè)協(xié)會

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了貴金屬漿料中固體含量的測試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于各種貴金屬漿料中固體含量的測定。非貴金屬漿料中固體含量的測定亦可參照使用。

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