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納米薄膜接觸角測(cè)量方法 現(xiàn)行

Measurement method for contact angle of nano-film surface

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 30447-2013

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 30447-2013
發(fā)布時(shí)間：2013-12-31
實(shí)施時(shí)間：2014-10-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：龐世紅、張繼軍、韓松、戴石鋒、徐進(jìn)、張珩、張慶華、王潤(rùn)梅、王立闖、張平、張叢叢
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 工業(yè)技術(shù)玻璃
ICS分類：原材料和未加工的玻璃
提出單位：中國(guó)科學(xué)院
起草單位：中國(guó)建筑材料科學(xué)研究總院、中國(guó)建材檢驗(yàn)認(rèn)證集團(tuán)股份有限公司、宣城晶瑞新材料有限公司、北京中科賽納(玻璃)技術(shù)有限公司、冶金工業(yè)信息標(biāo)準(zhǔn)研究院
歸口單位：全國(guó)納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 279)
發(fā)布部門：中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門：全國(guó)納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 279)

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了納米薄膜接觸角測(cè)量中涉及的術(shù)語(yǔ)、原理、試驗(yàn)設(shè)備、環(huán)境、樣品制備、分析步驟、結(jié)果計(jì)算和試驗(yàn)報(bào)告等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于襯底為表面平整的納米薄膜涂層。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。
本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)科學(xué)院提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC279)歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位:中國(guó)建筑材料科學(xué)研究總院、中國(guó)建材檢驗(yàn)認(rèn)證集團(tuán)股份有限公司、宣城晶瑞新材料有限公司、北京中科賽納(玻璃)技術(shù)有限公司、冶金工業(yè)信息標(biāo)準(zhǔn)研究院。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:龐世紅、張繼軍、韓松、戴石鋒、徐進(jìn)、張珩、張慶華、王潤(rùn)梅、王立闖、張平、張叢叢。

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