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電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 顯微結(jié)構(gòu)的測(cè)定 已作廢

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Determination of microstructure

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB 5594.8-1985

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB 5594.8-1985
發(fā)布時(shí)間:1985-01-01
實(shí)施時(shí)間:1986-01-02
首發(fā)日期:1985-11-27
出版單位:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:李中和
作廢日期:2016-01-01
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi):  >>>>L32
ICS分類(lèi):  31.030
提出單位:電子工業(yè)部
起草單位:上海科技大學(xué)
歸口單位:信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
發(fā)布部門(mén):國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
主管部門(mén):信息產(chǎn)業(yè)部(電子)

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)適用于氧化鋁瓷、氧化鈹瓷、滑石瓷和鎂橄欖石瓷等電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷顯微結(jié)構(gòu)的測(cè)定。本標(biāo)準(zhǔn)只涉及光學(xué)顯微鏡的測(cè)定內(nèi)容和測(cè)定方法。

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