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紅外焦平面陣列參數(shù)測(cè)試方法

Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 17444-2013
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 17444-2013
發(fā)布時(shí)間:2013-11-12
實(shí)施時(shí)間:2014-04-15
首發(fā)日期:
出版單位:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:丁瑞軍、梁平治、唐紅蘭、陳洪雷、曹嫵媚、殷建軍、陳世軍
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi): 紅外器件
ICS分類(lèi):光電子學(xué)、激光設(shè)備
提出單位:中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部
起草單位:中國(guó)科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所
歸口單位:工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
發(fā)布部門(mén):中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門(mén):工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)紅外焦平面陣列特性參數(shù)及相關(guān)量進(jìn)行了定義。本標(biāo)準(zhǔn)給出了紅外焦平面陣列特性參數(shù)的測(cè)試方法及測(cè)試條件。本標(biāo)準(zhǔn)適用于線列和面陣紅外焦平面陣列。
標(biāo)準(zhǔn)摘要
本標(biāo)準(zhǔn)按照GB1.1—2009給出的規(guī)則起草。 本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T17444—1998《紅外焦平面陣列特性參數(shù)測(cè)試技術(shù)規(guī)范》,與GB/T17444—1998相比主要變化如下: ———標(biāo)準(zhǔn)名稱修改為《紅外焦平面陣列參數(shù)測(cè)試方法》。 ———增加了一些參數(shù)定義,如:紅外焦平面陣列、像元、幀頻、行頻、固定圖形噪聲、平均峰值探測(cè)率、飽和信號(hào)電壓、像元噪聲等效溫差。 ———增加一些參數(shù)測(cè)試方法,如:固定圖形噪聲、讀出速率、幀頻。 ———增加了附錄D《調(diào)制傳遞函數(shù)測(cè)試方法》、附錄E《非線性度測(cè)試方法》。 ———修改了部分參數(shù)的名稱和定義,如:積分時(shí)間、讀出速率、輻照功率、輻照能量、飽和輻照功率、死像元、過(guò)熱像元、噪聲等效功率。 ———修改了部分參數(shù)的測(cè)試方法,如:響應(yīng)率、噪聲電壓、噪聲等效溫差、探測(cè)率、動(dòng)態(tài)范圍、相對(duì)光譜響應(yīng)、串音。 本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出。 本標(biāo)準(zhǔn)由工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所歸口。 本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中國(guó)科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所。 本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:丁瑞軍、梁平治、唐紅蘭、陳洪雷、曹嫵媚、殷建軍、陳世軍。 本部所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為: ———GB/T17444—1998。 |
標(biāo)準(zhǔn)目錄
前言 Ⅰ 1 范圍 1 2 術(shù)語(yǔ)和定義 1 3 符號(hào)和單位 4 4 測(cè)試方法 5 4.1 方法3001:響應(yīng)率和響應(yīng)率不均勻性 5 4.2 方法3002:噪聲電壓 8 4.3 方法3003:探測(cè)率 9 4.4 方法3004:噪聲等效溫差 9 4.5 方法3005:有效像元率 10 4.6 方法3006:固定圖形噪聲 11 4.7 方法3007:噪聲等效功率 11 4.8 方法3008:飽和輻照功率 12 4.9 方法3009:動(dòng)態(tài)范圍 12 4.10 方法3010:相對(duì)光譜響應(yīng) 13 4.11 方法3011:讀出速率、幀頻 14 4.12 方法3012:串音 15 附錄A (規(guī)范性附錄) 響應(yīng)率的其他表示 17 附錄B(規(guī)范性附錄) 空間噪聲 18 附錄C (資料性附錄) 備用特性參數(shù)及相關(guān)量 19 附錄D (資料性附錄) 調(diào)制傳遞函數(shù)測(cè)試方法 20 附錄E (資料性附錄) 非線性度測(cè)試方法 22 附錄F(規(guī)范性附錄) 一種推薦算法 23 |
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