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電子顯微鏡X射線泄漏劑量 已作廢

The dose of X-rays leakage from electron microscope

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 7667-1996

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 7667-1996
發(fā)布時(shí)間：1996-08-13
實(shí)施時(shí)間：1996-12-01
首發(fā)日期：
起草人：
作廢日期：2004-05-01
標(biāo)準(zhǔn)分類： 電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
ICS分類：光學(xué)設(shè)備
起草單位：上海電子光學(xué)技術(shù)研究所
歸口單位：上海電子光學(xué)技術(shù)研究所
發(fā)布部門：國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子顯微鏡（以下簡(jiǎn)稱電鏡）X射線泄漏劑量、試驗(yàn)方法及檢驗(yàn)規(guī)則。本標(biāo)準(zhǔn)適用于透射、掃描、反射、透射掃描和電子探針等不同類型的電鏡。

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