微束分析 電子探針分析 標準樣品技術條件導則 現行
Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for the specification of certified reference materials (CRMs)
標準號：GB/T 4930-2008
本標準給出了用于電子探針分析的單相標樣，并規定了標樣僅應用在平整拋光表面的顯微分析中。本標準不包括有機物和生物標樣。本標準等同采用ＩＳＯ１４５９５：２００３《微束分析 電子探針分析 標準樣品技術條件導則》（英文版）。 本標準代替ＧＢ／Ｔ４９３０—１９９３《電子探針分析標準樣品通用技術條件》，因為國際上的發展原標準在技術上已不適用。本標準對ＧＢ／Ｔ４９３０—１９９３進行了全面修改：———標題：將ＧＢ／Ｔ４９３０—１９９３原標題“電子探針分析標準樣品通用技術條件”改為“微束分析電子探針分析 標準樣品技術條件導則”；———所有技術條文的項目、內容、結構順序都作了變動，運用的技術方法更先進，更合理；———標樣材料不均勻性檢測及其數據統計處理改用美國國家標準技術研究院（ＮＩＳＴ）和英國國家物理實驗室（ＮＰＬ）共同研制的檢測和統計方法；———將標樣分級的概念引入本標準，使制作和應用標樣的領域擴大，更合理，更全面。
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本標準等同采用ISO14595:2003《微束分析 電子探針分析 標準樣品技術條件導則》(英文版)。 為了便于使用,本標準做了下列編輯性修改: ---本國際標準一詞改為本標準; ---用小數點.代替作為小數點的逗號,; ---刪除國際標準的前言。 本標準代替GB/T4930-1993《電子探針分析標準樣品通用技術條件》,因為國際上的發展原標準在技術上已不適用。 本標準對GB/T4930-1993進行了全面修改: ---標題:將GB/T4930-1993原標題電子探針分析標準樣品通用技術條件(00j)Tj改為微束分析 電子探針分析 標準樣品技術條件導則; ---所有技術條文的項目、內容、結構順序都作了變動,運用的技術方法更先進,更合理; ---標樣材料不均勻性檢測及其數據統計處理改用美國國家標準技術研究院(NIST)和英國國家物理實驗室(NPL)共同研制的檢測和統計方法; ---將標樣分級的概念引入本標準,使制作和應用標樣的領域擴大,更合理,更全面。 本標準的附錄B為規范性附錄,附錄A、附錄C 為資料性附錄。 本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出并歸口。 本標準起草單位:中國科學院廣州地球化學研究所。 本標準主要起草人:劉永康、萬光權、梁細榮、楊秋劍。 本標準所代替標準的歷次版本發布情況為: ---GB4930-1985、GB/T4930-1993。 |
| 前言Ⅲ 引言Ⅳ 1 范圍1 2 規范性引用文件1 3 術語和定義1 4 研究材料的制備1 5 材料的不均勻性2 6 研究材料的穩定性6 7 標樣化學成分的測定7 8 標樣試樣的制備、包裝、運輸和儲存7 9 標樣證書7 附錄A (資料性附錄) 不均勻性數據統計評價計算過程示例9 附錄B (規范性附錄) 推薦的電子探針分析用標樣分級11 附錄C (資料性附錄) 電子探針分析標樣證書范例12 參考文獻13 |
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