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盤形懸式絕緣子劣化檢測規(guī)程

The cap and pin type insulators aging inspection rule
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):DL/T 626-1997
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):DL/T 626-1997
發(fā)布時(shí)間:1997-10-22
實(shí)施時(shí)間:1998-01-01
首發(fā)日期:
起草人:
作廢日期:2005-06-01
標(biāo)準(zhǔn)分類: 絕緣子
標(biāo)準(zhǔn)簡介
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