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識別卡 柔性薄卡 第3部分：測試方法 現行

Identification cards—Thin flexible cards—Part 3:Test methods

標準號：GB/T 28177.3-2012

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基本信息

標準號：GB/T 28177.3-2012
發布時間：2012-12-31
實施時間：2013-06-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 數據媒體
ICS分類：識別卡和有關裝置
歸口單位：全國信息技術標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會

標準簡介

標準目錄

前言 Ⅲ
引言 Ⅳ
1 范圍 1
2 規范性引用文件 1
3 術語和定義 2
4 物理特性測試方法 3
4.1 概述 3
4.2 尺寸 4
4.3 厚度 4
4.4 分離力 5
4.5 卷繞 6
4.6 耐破度 6
4.7 挺度 6
4.8 耐折度 7
4.9 灰分 7
4.10 平滑度 7
4.11 不透明度(紙背襯)和阻光度(700nm~1000nm) 7
4.12 摩擦系數和堆垛力 8
4.13 反射因數 8
4.14 透氣度 8
4.15 施膠度 8
4.16 耐撕裂強度 9
4.17 抗分層力 9
4.18 冷裂溫度(脆度) 13
5 磁條物理特性的試驗方法 14
5.1 樣品準備和保存 14
5.2 條件和測試環境 14
5.3 凸起 14
5.4 輪廓偏差 15
5.5 粗糙度Ra 和Rz 15
5.6 翹曲 16
5.7 粘合 16
5.8 磨損試驗 16
__ 5.9 磁條尺寸測量 17
6 靜磁特性的測試方法 17
6.1 原理 17
6.2 儀器 17
6.3 樣品的準備和保存 18
6.4 規程 18
6.5 結果表述 19
6.6 矯頑力HcM 20
6.7 矩形比SQ 20
6.8 開關場分布(SFD) 20
6.9 測試報告 20
7 動態磁特性測試方法 21
7.1 原理 21
7.2 基準卡 21
7.3 儀器 21
7.4 準備和樣品保存 21
7.5 測試方法 22
7.6 結果表述 22
7.7 測試報告 22
8 帶非接觸式芯片和天線的卡片測試 23
8.1 相連卡的芯片/天線連接的可靠性 23
8.2 單張卡的芯片/天線連接的可靠性 24
8.3 耐劃痕測試后的芯片/天線連接性測試 25
8.4 卡的耐折皺或折疊測試 26
參考文獻 28

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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