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半導體激光器測試方法 現行

Test methods of semiconductor lasers

標準號：GB/T 31359-2015

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基本信息

標準號：GB/T 31359-2015
發布時間：2015-02-04
實施時間：2015-08-01
首發日期：
起草人：劉興勝、趙衛、許國棟、張艷春、楊軍紅、馬曉宇、唐琦、吳迪、王貞福、王警衛、謝彥虎、王家贊、李小寧、史俊紅、陳海蓉、仲莉、石朝輝、張恩、許海明、張國新
標準分類： 激光器件
ICS分類：光電子學、激光設備
提出單位：中國機械工業聯合會
起草單位：西安炬光科技有限公司、中國科學院西安光學精密機械研究所、中國科學院半導體研究所、北京國科世紀激光技術有限公司、武漢華工正源光子技術有限公司、中國電子科技集團公司第十三研究所
歸口單位：全國光輻射安全和激光設備標準化技術委員會(SAC/TC284)
發布部門：中國標準出版社
主管部門：中國機械工業聯合會

標準簡介

本標準規定了半導體激光器主要光電參數的測試方法。本標準適用于半導體激光器主要光電參數的測試。半導體激光器組件可參考執行。

標準摘要

本標準按照 GB/T1.1—2009給出的規則起草。
本標準由中國機械工業聯合會提出。
本標準由全國光輻射安全和激光設備標準化技術委員會(SAC/TC284)歸口。
本標準起草單位:西安炬光科技有限公司、中國科學院西安光學精密機械研究所、中國科學院半導體研究所、北京國科世紀激光技術有限公司、武漢華工正源光子技術有限公司、中國電子科技集團公司第十三研究所。
本標準主要起草人:劉興勝、趙衛、許國棟、張艷春、楊軍紅、馬曉宇、唐琦、吳迪、王貞福、王警衛、謝彥虎、王家贊、李小寧、史俊紅、陳海蓉、仲莉、石朝輝、張恩、許海明、張國新。

替代情況

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引用標準

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采標情況

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