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平晶檢定規(guī)程現(xiàn)行

Verification Regulation of plane Optical Flat

標(biāo)準(zhǔn)號：JJG 28-2000

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：JJG 28-2000

發(fā)布時間：2000-07-09

實施時間：2000-09-15

首發(fā)日期：

出版單位：中國計量出版社查看詳情>

起草人：郭德、陳勇、劉麗娟、曾琰

出版機(jī)構(gòu)：中國計量出版社

標(biāo)準(zhǔn)分類：光學(xué)計量

起草單位：湖南省計量測試技術(shù)研究所

歸口單位：全國幾何量工程參量計量技術(shù)委員會

發(fā)布部門：國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本規(guī)程適用于平面平晶、平行平晶和長平晶的定型鑒定（或樣機(jī)試驗）、首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢驗。

替代情況

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引用標(biāo)準(zhǔn)

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