石英晶體元件參數的測量 第6部分：激勵電平相關性（DLD）的測量 現行
Measurement of quartz crystal unit parameters Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
標準號：SJ/T 11212-1999
基本信息
標準號：SJ/T 11212-1999
發布時間：1999-08-26
實施時間：1999-12-01
首發日期：
起草人：章怡、宋佩鈺、鄧鶴松、邊一林
標準分類： 石英晶體、壓電元件
提出單位：電子工業部標準化研究所
起草單位：電子工業部標準化研究所
歸口單位：電子工業部標準化研究所
發布部門：中華人民共和國信息產業部
標準簡介
本規范適用于石英晶體件激勵電平相關性（DLD）的測量。本標準規定兩種試驗方法。方法A，以SJ/Z9154.1-87的π型網絡為基礎，適宜 和于該標覆蓋的整個頻率范圍。方法B，是振蕩器法，適用于固定條件下大批量基頻石英晶體件的測量。
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