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金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 X射線光譜方法

Metallic coatings-Measurement of coating thickness-X-ray spectrometric methods
標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 16921-2005
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 16921-2005
發(fā)布時(shí)間:2005-10-12
實(shí)施時(shí)間:2006-04-01
首發(fā)日期:1997-07-25
出版單位:中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:姜新華、凌國偉、劉建國、鐘立暢、宋智玲
出版機(jī)構(gòu):中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 材料防護(hù)
ICS分類:表面處理
提出單位:中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會
起草單位:機(jī)械工業(yè)表面覆蓋層產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢測中心
歸口單位:全國金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布部門:中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
主管部門:中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會
標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了應(yīng)用X射線光譜方法測量金屬覆蓋層度的方法。本標(biāo)準(zhǔn)所用的測量方法基本屬于測定單位面積質(zhì)量的一種方法。如果已知覆蓋層材料的密度,則測量結(jié)果也可用覆蓋層的線性厚度表示。本測量方法可同時(shí)測量三層覆蓋層體系,或同時(shí)測量三層組分的厚度和成分。給定覆蓋層材料的實(shí)際測量范圍主要取決于被分析的特征X射線熒光的能量以及所允許的測量不確定度,而且因所用儀器設(shè)備和操作規(guī)程而不同。
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