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半導(dǎo)體X射線探測(cè)器系統(tǒng)和半導(dǎo)體X射線能譜儀的測(cè)量方法 現(xiàn)行

Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 11685-2003

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 11685-2003
發(fā)布時(shí)間：2003-07-07
實(shí)施時(shí)間：2004-01-01
首發(fā)日期：1989-10-14
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：熊正隆
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 核儀器與核探測(cè)器綜合
ICS分類：核能綜合
提出單位：全國(guó)核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
起草單位：核工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
歸口單位：核工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
發(fā)布部門：國(guó)防科學(xué)技術(shù)工業(yè)委員會(huì)
主管部門：國(guó)防科學(xué)技術(shù)工業(yè)委員會(huì)

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體x射線探測(cè)器系統(tǒng)和半導(dǎo)體x射線能譜儀主要特性的測(cè)量方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體x射線探測(cè)器系統(tǒng)和半導(dǎo)體x射線能譜儀主要性能的測(cè)量。

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