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CMOS集成電路抗輻射加固設計要求
CMOS集成電路抗輻射加固設計要求 即將實施
Design requirements of radiation hardening for CMOS IC
標準號：GB/T 41033-2021
基本信息
標準號：GB/T 41033-2021
發布時間：2021-12-31
實施時間：2022-07-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：劉智、葛梅、謝成民、王斌、于洪波、岳紅菊、姚思遠、李海松、耿增建、胡巧玉
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 航天用液壓元件與附件
ICS分類：航空航天用零部件
提出單位：全國宇航技術及其應用標準化技術委員會(SAC/TC 425)
起草單位：中國航天科技集團有限公司第九研究院第七七一研究所
歸口單位：全國宇航技術及其應用標準化技術委員會(SAC/TC 425)
發布部門：國家市場監督管理總局 國家標準化管理委員會
標準簡介
本文件規定了CMOS集成電路抗輻射（總劑量、單粒子）加固設計的流程、設計要求、建模仿真、驗證試驗要求。本文件適用于基于體硅/SOI CMOS工藝的數字集成電路、模擬集成電路和數?；旌霞呻娐返目馆椛洌倓┝俊瘟Ｗ樱┘庸淘O計。
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