
Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniques—Voltage dips,short interruptions and voltage variations immunity tests for equipment with mains current more than 16 A per phase
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 17626.34-2012
本部分規(guī)定了與低壓供電網(wǎng)連接的電氣和電子設(shè)備對(duì)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)方法和優(yōu)選的試驗(yàn)等級(jí)范圍。本部分適用于主電源每相額定電流超過(guò)16A 的電氣和電子設(shè)備(每相額定電流超過(guò)200A 的電氣和電子設(shè)備的指南見(jiàn)附錄E)。本部分適用于安裝在居民區(qū)和工業(yè)區(qū)的連接到50Hz或者60Hz交流網(wǎng)絡(luò)的可能發(fā)生電壓暫降和短時(shí)中斷的單相和三相設(shè)備。本部分不適用于連接到400Hz交流網(wǎng)絡(luò)的電氣和電子設(shè)備。與這些網(wǎng)絡(luò)連接的設(shè)備的試驗(yàn)將在以后的標(biāo)準(zhǔn)中涉及。
GB/T17626《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)》分為以下幾個(gè)部分: GB/T17626.1—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論 GB/T17626.2—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.3—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.4—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.5—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.6—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度 GB/T17626.7—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、諧間波的測(cè)量和測(cè)量?jī)x器導(dǎo)則 GB/T17626.8—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.9—2011 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 脈沖磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.10—1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 阻尼振蕩磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.11—2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.12—1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 振蕩波抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.13—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號(hào)的低頻抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.14—2005 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.15—2011 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 閃爍儀 功能和設(shè)計(jì)規(guī)范 GB/T17626.16—2007 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 0Hz~150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.17—2005 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.27—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.28—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.29—2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和 電壓變化的抗擾度試驗(yàn) GB/T17626.34—2012 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 主電源每相電流大于16A 的設(shè)備的電壓 暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn) 本部分為GB/T17626的第34部分。 本部分按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。 本部分等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-34:2009《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 主電源每相電流大于16A 的設(shè)備的電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)》。 本部分由全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC246)提出并歸口。 本部分主要起草單位:上海工業(yè)自動(dòng)化儀表研究院、國(guó)網(wǎng)電力科學(xué)研究院。 本部分參加起草單位:上海儀器儀表自控系統(tǒng)檢驗(yàn)測(cè)試所、上海出入境檢驗(yàn)檢疫局。 本部分主要起草人:王英、萬(wàn)保權(quán)、劉曉東、干喆淵、李妮、洪濟(jì)曄、張順達(dá)。 |
前言 Ⅲ 1 范圍 1 2 規(guī)范性引用文件 1 3 術(shù)語(yǔ)和定義 1 4 概述 3 5 試驗(yàn)等級(jí) 3 6 試驗(yàn)設(shè)備 6 7 試驗(yàn)布置 7 8 試驗(yàn)程序 7 9 試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)估 9 10 試驗(yàn)報(bào)告 10 附錄A (規(guī)范性附錄) 試驗(yàn)發(fā)生器(峰值沖擊)電流驅(qū)動(dòng)能力 11 附錄B(資料性附錄) 電磁環(huán)境分類(lèi) 13 附錄C (資料性附錄) 三相線試驗(yàn)的向量 14 附錄D (資料性附錄) 試驗(yàn)儀器 18 附錄E (資料性附錄) 大電流設(shè)備的暫降抗擾度試驗(yàn) 20 參考文獻(xiàn) 22 圖1 電壓暫降---70%電壓暫降正弦波波形圖 5 圖2 電壓變化 5 圖3a) 三相系統(tǒng)相線對(duì)中線試驗(yàn) 8 圖3b) 三相系統(tǒng)相線對(duì)相線試驗(yàn)---可接受的相移方法1 9 圖3c) 三相系統(tǒng)相線對(duì)相線試驗(yàn)---可接受的相移方法2 9 圖3d) 不可接受的方法---相線對(duì)相線無(wú)相移試驗(yàn) 9 圖A.1 確定發(fā)生器峰值沖擊電流驅(qū)動(dòng)能力的電路 12 圖C.1 相線對(duì)中線電壓暫降向量圖 14 圖C.2 可接受的方法1---相線對(duì)相線電壓暫降向量圖 15 圖C.3 可接受的方法2---相線對(duì)相線電壓暫降向量圖 17 圖D.1 采用帶抽頭變壓器和開(kāi)關(guān)的試驗(yàn)儀器進(jìn)行電壓暫降和短時(shí)中斷的原理圖 18 圖D.2 使用圖D.1中的試驗(yàn)儀器產(chǎn)生圖C.1、圖C.2和圖3b)所示的可接受方法1的向量 19 圖D.3 采用功率放大器的三相電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化試驗(yàn)儀器原理圖 19 表1 電壓暫降試驗(yàn)優(yōu)先采用的試驗(yàn)等級(jí)和持續(xù)時(shí)間 4 表2 短時(shí)中斷試驗(yàn)優(yōu)先采用的試驗(yàn)等級(jí)和持續(xù)時(shí)間 4 表3 短期供電電壓變化的時(shí)間設(shè)定 5 表4 發(fā)生器規(guī)范 6 表A.1 最小峰值沖擊電流能力 11 表C.1 相線對(duì)中線電壓暫降的向量值 14 表C.2 可接受的方法1---相線對(duì)相線電壓暫降的向量值 16 表C.3 可接受的方法2---相線對(duì)相線電壓暫降的向量值 17 |
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