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識別卡 測試方法 第3部分:帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備 現行

Identification cards - Test methods Part 3: Integrated circuit(s) cards with contacts and related interface devices

標準號：GB/T 17554.3-2006

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基本信息

標準號：GB/T 17554.3-2006
發布時間：2006-03-14
實施時間：2006-07-01
首發日期：2006-03-14
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：馮敬、蔡懷忠、耿力、金倩、劉華茂
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 數據媒體
ICS分類：識別卡和有關裝置
提出單位：中華人民共和國信息產業部
起草單位：中國電子技術標準化研究所
歸口單位：全國信息技術標準化技術委員會
發布部門：國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會

標準簡介

本標準規定了符合GB/T14916-2006所定義識別卡特性的一些測試方法，本部分定義了帶觸點的集成電路卡的測試方法。

標準摘要

GB/T17554《識別卡測試方法》擬分為7個部分:
-第1部分:一般特性測試
-第2部分:磁條卡
-第3部分:帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備
-第4部分:無觸點集成電路卡
-第5部分:光記憶卡
-第6部分:接近式卡
-第7部分:鄰近式卡
本部分為GB/T17554的第3部分。修改采用國際標準ISO/IEC10373-3:2001《識別卡測試方法第3部分:帶觸點的集成電路卡及其相關接口設備})(英文版)。
本部分與ISO/IEC10373-3:2001相比,增加和修改了下列內容:
a)增加了4.6.2.2參數定義;
b)附錄A中增加了A.1.2點壓力測試,:
c)附錄A因增加A.1.2,其編號作了編輯性修改。
根據新版識別卡帶觸點的集成電路卡物理特性標準做了以上修改。
本部分的附錄A是資料性附錄。
本部分由中華人民共和國信息產業部提出。
本部分由中國電子技術標準化研究所歸口。
本部分起草單位:中國電子技術標準化研究所。
本部分主要起草人:馮敬、蔡懷忠、耿力、金倩、劉華茂。

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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