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透射電子顯微鏡 試驗方法
透射電子顯微鏡 試驗方法 已廢止
Test method for the transmission electron microscope
標準號：JB/T 9352-1999
基本信息
標準號：JB/T 9352-1999
發布時間：1999-08-06
實施時間：2000-01-01
首發日期：
出版單位：機械工業出版社查看詳情>
起草人：
作廢日期：2010-01-20
出版機構：機械工業出版社
標準分類： 電子光學與其他物理光學儀器
ICS分類：
17.080.30
提出單位：全國光學和全國光學儀器標準化技術委員會
起草單位：上海電子光學技術研究所、上海光學儀器研究所
歸口單位：全國光學和全國光學儀器標準化技術委員會
發布部門：國家機械工業局
標準簡介
本標準規定了透射電子顯微鏡(以下簡稱電鏡)的試驗方法。本標準適用于透射電鏡主機性能的試驗。
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