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鉑硅紅外焦平面探測(cè)器杜瓦組件通用規(guī)范

General specification for PtSi infrared focal plane arrays detector-dewar assembly
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):SJ 20830-2002
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):SJ 20830-2002
發(fā)布時(shí)間:2002-10-30
實(shí)施時(shí)間:2003-03-01
首發(fā)日期:
出版單位:工業(yè)電子出版社查看詳情>
起草人:
出版機(jī)構(gòu):工業(yè)電子出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 紅外器件
起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子四所
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本規(guī)范規(guī)定了鉑硅紅外焦平面探測(cè)器杜瓦組件的通用要求、質(zhì)量保證規(guī)定和試驗(yàn)方法等。本規(guī)范主要適用于由鉑硅紅外焦平面探測(cè)器芯片和杜瓦組成的組件,其他紅外焦平面探測(cè)器杜瓦組件也可參照采用。
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