表面化學分析——二次離子質譜-由離子注入參考物質確定相對靈敏度因子 現行
Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
標準號：GB/T 25186-2010
基本信息
標準號：GB/T 25186-2010
發布時間：2010-09-26
實施時間：2011-08-01
首發日期：2010-09-26
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：馬農農、何友琴、何秀坤
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：化學分析
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會
起草單位：信息產業部專用材料質量監督檢驗中心
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國微束分析標準化技術委員會
標準簡介
本標準指定了一種由離子注入參考物質確定二次離子質譜分析中相對靈敏度因子的方法。本標準適用于基體化學成分單一的樣品,其中注入物質的峰值原子濃度不超過1%。
標準摘要
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本標準等同采用ISO18114:2003《表面化學分析 二次離子質譜 由離子注入參考物質確定相對靈敏度因子》。 為了方便使用,本標準做了下列編輯性修改: ———用“本標準”代替“本國際標準”。 本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出并歸口。 本標準起草單位:信息產業部專用材料質量監督檢驗中心。 本標準主要起草人:馬農農、何友琴、何秀坤。 |
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