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微電子技術用貴金屬漿料測試方法 細度測定 現行

Test methods of presious metals pastes used for microelectronics - Determination of fineness

標準號：GB/T 17473.2-2008

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基本信息

標準號：GB/T 17473.2-2008
發布時間：2008-03-31
實施時間：2008-09-01
首發日期：1998-08-19
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：武新榮、羅云、陳伏生、李文琳、馬曉峰、朱武勛、李晉
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 貴金屬及其合金
ICS分類：其他有色金屬及其合金
提出單位：中國有色金屬工業協會
起草單位：貴研鉑業股份有限公司
歸口單位：全國有色金屬標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：中國有色金屬工業協會

標準簡介

本部分規定了微電子技術用貴金屬漿料細度的刮板測定方法。本部分適用于微電子技術用貴金屬漿料細度測定。

標準摘要

本標準是對GB/T17473-1998《厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法》(所有部分)的整合修訂,分為7個部分:
---GB/T17473.1-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 固體含量測定;
---GB/T17473.2-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 細度測定;
---GB/T17473.3-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 方阻測定;
---GB/T17473.4-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 附著力測試;
---GB/T17473.5-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 粘度測定;
---GB/T17473.6-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 分辨率測定;
---GB/T17473.7-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 可焊性、耐焊性測定。
本部分為GB/T17473-2008的第2部分。
本部分代替GB/T17473.2-1998《厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法 細度測定》。
本部分與GB/T17473.2-1998相比,主要有如下變動:
---將原標準名稱修改為:微電子技術用貴金屬漿料測試方法 細度測定;
---刪除了范圍中非貴金屬漿料亦可參照本標準執行的內容;
---對檢測試樣不少于5份,每份2g的要求取消,只要求試樣充分攪拌均勻。
本部分由中國有色金屬工業協會提出。
本部分由全國有色金屬標準化技術委員會歸口。
本部分由貴研鉑業股份有限公司負責起草。
本部分主要起草人:武新榮、羅云、陳伏生、李文琳、馬曉峰、朱武勛、李晉。
本部分所代替標準的歷次版本發布情況為:
---GB/T17473.2-1998。

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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