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電工電子產品加速應力試驗規程 高加速應力篩選導則 現行

Accelerated stress testing procedures for electric and electronic products—Guidance for highly accelerated stress screen

標準號：GB/T 32466-2015

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基本信息

標準號：GB/T 32466-2015
發布時間：2015-12-31
實施時間：2016-07-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：朱建華、張華、汪建軍、馮志生、李琳、趙浩如、羅遠、李曉茜、張燦文、丁勇、陳顯顧、劉勇志、舒望
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：環境試驗
提出單位：全國質量監管重點產品檢驗方法標準化技術委員會（SAC/TC 374）
起草單位：深圳市計量質量檢測研究院、中檢華納（北京）質量技術中心有限公司、中檢聯盟（北京）質檢技術研究院有限公司、華為技術有限公司、勤達科技集團有限公司、深圳優博聚能科技有限公司
歸口單位：全國質量監管重點產品檢驗方法標準化技術委員會(SCA/TC 374)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國質量監管重點產品檢驗方法標準化技術委員會(SCA/TC 374)

標準簡介

本標準規定了高加速應力篩選的一般要求和試驗方法。 本標準適用于電工電子產品及其電子部件、印制電路板組件等。對于大型整機，宜優先考慮對其前 端的裝配級別（如印制電路板組件、子模塊）進行試驗。 本標準適用于產品的試產階段或批量生產階段。

標準摘要

本標準按照GB/T 1.1-2009給出的規則起草。
本標準由全國質量監管重點產品檢驗方法標準化技術委員會（SAC/TC 374）提出并歸口。
本標準起草單位：深圳市計量質量檢測研究院、中檢華納（北京）質量技術中心有限公司、中檢聯盟（北京）質檢技術研究院有限公司、華為技術有限公司、勤達科技集團有限公司、深圳優博聚能科技有限公司。
本標準主要起草人：朱建華、張華、汪建軍、馮志生、李琳、趙浩如、羅遠、李曉茜、張燦文、丁勇、陳顯顧、劉勇志、舒望。

替代情況

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引用標準

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采標情況

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