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低溫下晶體透射率的試驗(yàn)方法 現(xiàn)行

Method for testing cryogenic transmissivity of crystals

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 16864-1997

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 16864-1997
發(fā)布時間：1997-06-16
實(shí)施時間：1997-12-01
首發(fā)日期：1997-06-16
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：
出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 儀器、儀表用材料和元件
ICS分類：光學(xué)和光學(xué)測量綜合
起草單位：中國科學(xué)院物理研究所
歸口單位：中國科學(xué)院
發(fā)布部門：國家技術(shù)監(jiān)督局
主管部門：中國科學(xué)院

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低溫下(300K~20K),波長在紫外-近紅外的晶體透射率的試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于晶體透射率的測試。

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