表面化學分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合報告的基本要求 即將實施
Surface chemical analysis—Electron spectroscopies—Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy
標準號：GB/T 41073-2021
基本信息
標準號：GB/T 41073-2021
發布時間：2021-12-31
實施時間：2022-07-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：趙志娟、邱麗美、劉芬、章小余、王巖華
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：化學分析
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
起草單位：中國科學院化學研究所、中國石油化工股份有限公司石油化工科學研究院
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
發布部門：國家市場監督管理總局 國家標準化管理委員會
標準簡介
本文件規定了如何報告X射線光電子能譜的峰擬合及其結果。本文件適用于單個譜圖或一組相關譜圖的擬合，例如在深度剖析測試中采集獲得的一組相關譜圖。本文件提供了一個應報告的參數列表，以實現可重復的峰擬合或對多個譜進行擬合與比較。本文件不提供峰擬合的操作說明，也不提供應采用的擬合步驟。
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