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半導體光耦合器（二極管）結電容的測試方法 已作廢

Method of measurement for junction capacitance of semiconductor photocouplers (diodes)

標準號：SJ 2215.6-1982

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基本信息

標準號：SJ 2215.6-1982
發布時間：1982-11-30
實施時間：1983-07-01
首發日期：
起草人：
作廢日期：2015-10-01
標準分類： 技術管理

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