無損檢測 工業射線計算機層析成像檢測 第1部分：原理、設備和樣品 即將實施
Non-destructive testing—Radiation methods for industrial computed tomography—Part 1:Principles,equipment and samples
標準號：GB/T 41123.1-2021
基本信息
標準號：GB/T 41123.1-2021
發布時間：2021-12-31
實施時間：2022-07-01
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：肖永順、喬日東、葉青、蔣建生、王玨、丁杰、蔡玉芳、齊子誠、運明華、王曉勇、徐國珍、劉軍、楊龍
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：無損檢測
提出單位：全國無損檢測標準化技術委員會(SAC/TC 56)
起草單位：清華大學、中國兵器科學研究院寧波分院、北京固鴻科技有限公司、上海材料研究所、重慶大學、重慶真測科技股份有限公司、湖北三江航天江北機械工程有限公司、航天智造(上海)科技有限責任公司、中信戴卡股份有限公司、上海奕瑞光電子科技股份有限公司
歸口單位：全國無損檢測標準化技術委員會(SAC/TC 56)
發布部門：國家市場監督管理總局 國家標準化管理委員會
標準簡介
本文件規定了X射線計算機層析成像（CT）的一般原理、所用設備及關于樣品、材料和幾何形狀的基本注意事項。本文件適用于工業計算機層析成像（非醫學應用）檢測，定義了一組CT系統性能參數，以及這些性能參數與 CT 系統規格的關系。本文件適用于計算機軸向層析成像，不適用于其他類型的層析成像，如平移層析成像和斷層合成成像。
推薦檢測機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦認證機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦培訓機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
? 2018 北京寰標偉業科技發展有限公司版權所有并保留所有權利。
ICP備案證書號：京ICP備17031081號-1 客服電話：010-62050868
