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微束分析 用于波譜和能譜分析的粉末試樣制備方法
微束分析 用于波譜和能譜分析的粉末試樣制備方法 即將實施
Microbeam analysis—Method of specimen preparation for analysis of general powders using WDS and EDS
標準號：GB/T 41074-2021
基本信息
標準號：GB/T 41074-2021
發(fā)布時間：2021-12-31
實施時間：2022-07-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：陳振宇、范光、毛騫
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 基礎標準與通用方法
ICS分類：有關化學分析方法的其他標準
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
起草單位：中國地質科學院礦產資源研究所、核工業(yè)北京地質研究院、中國科學院地質與地球物理研究所
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
發(fā)布部門：國家市場監(jiān)督管理總局 國家標準化管理委員會
標準簡介
本文件規(guī)定了使用安裝在電子探針（EPMA）或掃描電鏡（SEM）上的能譜儀（EDS）或波譜儀（WDS）分析粉末中的顆粒時的試樣制備方法。根據(jù)分析目的和顆粒尺寸，對粉末顆粒試樣的制備方法進行了分類。本文件適用于粒徑范圍在100 nm~100 μm的無機物顆粒。本文件不適用于一些特殊應用，如法醫(yī)分析或痕量分析。
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