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微束分析 掃描電鏡能譜儀定量分析參數的測定方法
微束分析 掃描電鏡能譜儀定量分析參數的測定方法 現行
Microbeam analysis—Determination method for quantitative analysis parameters of SEM-EDS
標準號：GB/T 25189-2010
基本信息
標準號：GB/T 25189-2010
發布時間：2010-09-26
實施時間：2011-08-01
首發日期：2010-09-26
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：周劍雄、陳振宇
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 電化學、熱化學、光學式分析儀器
ICS分類：有關化學分析方法的其他標準
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會
起草單位：中國地質科學院礦產資源研究所
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國微束分析標準化技術委員會
標準簡介
本標準規定了掃描電鏡-能譜儀化學成分定量分析相關參數的測定方法。本標準適用于對掃描電鏡中影響定量分析性能的相關參數和能譜儀基本參數的測定,并以元素成分定量分析結果對儀器做出綜合分析。
標準摘要
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本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出并歸口。 本標準起草單位:中國地質科學院礦產資源研究所。 本標準主要起草人:周劍雄、陳振宇。 |
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