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藍(lán)寶石單晶位錯密度測量方法 現(xiàn)行

Test method for dislocation density of sapphire single crystal

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 33763-2017

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 33763-2017
發(fā)布時間：2017-05-31
實施時間：2017-12-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：薛抗美、黃修康、杭寅、尹繼剛、田野、張永波、張毅
出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 金屬化學(xué)性能試驗方法
ICS分類：金屬材料試驗
提出單位：全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 203)、全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會材料分會(SAC/TC 203/SC 2)
起草單位：江蘇協(xié)鑫軟控設(shè)備科技發(fā)展有限公司、中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所、深圳市中安測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)有限公司
歸口單位：全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 203)、全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會材料分會(SAC/TC 203/SC 2)
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
主管部門：國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了藍(lán)寶石單晶位錯密度的測量方法。? 本標(biāo)準(zhǔn)適用于拋光加工后位錯密度為0個/cm2～100 000個/cm2的藍(lán)寶石單晶位錯密度的測量，檢測面為{0001}、{1120}、{1012}、{1010}面。

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