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薄晶體厚度的會聚束電子衍射測定方法 現行

Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction

標準號：GB/T 20724-2006

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基本信息

標準號：GB/T 20724-2006
發布時間：2007-03-26
實施時間：2007-08-01
首發日期：2006-12-25
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：柳得櫓
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 電化學、熱化學、光學式分析儀器
ICS分類：有關化學分析方法的其他標準
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會
起草單位：北京科技大學
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：國家標準化管理委員會

標準簡介

本標準規定了用透射電子顯微鏡測定薄晶體厚度的會聚束電子衍射方法。

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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