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高溫超導薄膜微波表面電阻測試
高溫超導薄膜微波表面電阻測試 廢止
Measurements of microwave surface resistance of resistance of HTSC thin film
標準號：GB/T 22586-2008
基本信息
標準號：GB/T 22586-2008
發布時間：2008-12-15
實施時間：2009-05-01
首發日期：2008-12-15
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：羅正祥、劉宜平、李宏成、吉爭鳴、鄭東寧、許偉偉、張其劭、魏斌、曾成
作廢日期：2018-10-01
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 金屬物理性能試驗方法
ICS分類：金屬材料的其他試驗方法
提出單位：中國科學院
起草單位：電子科技大學、清華大學、南京大學等
歸口單位：全國超導標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：中國科學院
標準簡介
本標準規定了在微波頻率下利用雙諧振器法測試超導體表面電阻的方法。測試目標是在諧振頻率下Rs隨溫度的變化。本標準適用于表面電阻的測試范圍如下：———頻率：８GHz＜f＜３０GHz———測試分辨率：0.01mΩ（f＝10GHz）
標準摘要
|
本標準等同采用ＩＥＣ６１７８８-７：２００６《電子性能測量 微波頻率下超導體的表面電阻》（英文版），在技術內容上與該國際標準一致。為了便于使用，本標準做了下列編輯性修改： ａ）用“本標準”代替“本國際標準”。 ｂ）將“ＩＥＣ／ＴＣ９０引言”改為“引言”等有關內容。 ｃ）用小數點“．”代替作為小數的“，”。 本標準的附錄Ａ 為資料性附錄。 本標準由國家超導技術聯合研究開發中心和全國超導標準化技術委員會提出。 本標準由全國超導標準化技術委員會歸口。 本標準負責起草單位：電子科技大學。 本標準參加起草單位：清華大學、南京大學、中國科學院物理研究所。 本標準主要起草人：羅正祥、劉宜平、李宏成、吉爭鳴、鄭東寧、許偉偉、張其劭、魏斌、曾成。 |
標準目錄
| 前言Ⅲ 引言Ⅳ １ 范圍１ ２ 規范性引用文件１ ３ 術語和定義１ ４ 要求１ ５ 裝置１ ５．１ 測試系統１ ５．２ 犚Ｓ 測試腔體２ ５．３ 介質柱２ ６ 測試步驟４ ６．１ 樣品準備４ ６．２ 系統構建４ ６．３ 參考電平的測試４ ６．４ 諧振器頻響特性的測試５ ６．５ 超導薄膜的表面電阻犚Ｓ、標準藍寶石柱的ε′和ｔａｎδ 的確定６ ７ 測試方法的精密度和精確度７ ７．１ 表面電阻７ ７．２ 溫度７ ７．３ 樣品和支撐結構８ ７．４ 樣品的保護８ ８ 測試報告８ ８．１ 被測樣品的標識８ ８．２ Rs 值報告８ ８．３ 測試條件報告８ 附錄Ａ （資料性附錄） 與第１章～第８章相關的附加資料９ 參考文獻１７ 圖１ 使用制冷機測試犚Ｓ 隨溫度變化特性的裝置圖２ 圖２ 典型的犚Ｓ 測試腔體示意圖３ 圖３ 犜（Ｋ）溫度下的插入損耗犐犃、諧振頻率犳０ 和半功率點帶寬Δ犳５ 圖４ 反射系數（犛１１和犛２２） ６ 圖５ 表４中術語的定義７ 圖Ａ．１ 各種測量微波表面電阻犚Ｓ 方法結構示意圖９ 圖Ａ．２ 兩端由兩片沉積在介質基片上的超導薄膜短路圓柱形介質諧振器的幾何結構１１ 圖Ａ．３?。裕牛埃睜鹉Ｊ降臓?狏和犠?狏關系的計算結果１１ 圖Ａ．４ 測量犚Ｓ、ｔａｎδ 的標準介質柱的電磁場結構１２ 圖Ａ．５ 三種形式的諧振器的結構示意圖１２ 圖Ａ．６ 設計平行超導薄膜兩端短路的ＴＥ０１１諧振器的模式圖［２０］ １３ 圖Ａ．７ 設計平行超導薄膜兩端短路的ＴＥ０１３諧振器的模式圖［２０］ １４ 圖Ａ．８ 閉合式ＴＥ０１１諧振器的模式圖１５ 圖Ａ．９ 閉合式ＴＥ０１３諧振器的模式圖１６ 表１?。保玻牵龋?、１８ＧＨｚ、２２ＧＨｚ時標準藍寶石介質柱的典型尺寸４ 表２ １２ＧＨｚ、１８ＧＨｚ、２２ＧＨｚ時超導薄膜的尺寸４ 表３ 矢量網絡分析儀的參數７ 表４ 藍寶石介質柱參數７ |
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