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半導(dǎo)體管特性圖示儀通用規(guī)范 現(xiàn)行

General specification test methods for semiconductor device curve tracers

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 13973-2012

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 13973-2012
發(fā)布時(shí)間：2012-12-31
實(shí)施時(shí)間：2013-06-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：吳宗蘇、徐正江、朱佩華、徐長(zhǎng)風(fēng)、俞見(jiàn)逸
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 電子測(cè)量與儀器綜合
ICS分類：電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測(cè)量
提出單位：中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部
起草單位：上海新建儀器設(shè)備有限公司
歸口單位：全國(guó)電子測(cè)量?jī)x器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 153)
發(fā)布部門：中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門：全國(guó)電子測(cè)量?jī)x器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 153)

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體管特性圖示儀的術(shù)語(yǔ)和定義、要求、測(cè)試方法、質(zhì)量檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)識(shí)、包裝、運(yùn)輸、貯存等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)試半導(dǎo)體管特性曲線和直流參數(shù)的半導(dǎo)體管特性圖示儀,也適用于具有插入單元或附屬裝置的半導(dǎo)體管特性圖示儀。圖示儀的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)滿足本標(biāo)準(zhǔn)的要求,當(dāng)圖示儀的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)要求超出本標(biāo)準(zhǔn)要求時(shí),應(yīng)以產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。
本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T13973—1992《半導(dǎo)體管特性圖示儀通用技術(shù)條件》、GB/T13974—1992《半導(dǎo)體管特性圖示儀測(cè)試方法》。
本標(biāo)準(zhǔn)納入并調(diào)整了GB/T13973—1992、GB/T13974—1992中適用的內(nèi)容。在環(huán)境適應(yīng)性中各試驗(yàn)項(xiàng)目按照GB/T6587—2012《電子測(cè)量?jī)x器通用規(guī)范》中的有關(guān)規(guī)定。主要變化如下:
———增加了“術(shù)語(yǔ)和定義”(見(jiàn)第3章);
———增加了“基準(zhǔn)工作條件”(見(jiàn)5.1);
———增加了“檢驗(yàn)條件”(見(jiàn)5.2);
———增加了“集電極大電流偏轉(zhuǎn)系數(shù)”(見(jiàn)5.7.2.1.3);
———增加了“精密電阻器參考值”(見(jiàn)表3);
———增加了“階梯電流偏移和階梯電壓偏移”(見(jiàn)5.7.4.6、5.7.4.7)。
本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)電子測(cè)量?jī)x器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC153)歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:上海新建儀器設(shè)備有限公司。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:吳宗蘇、徐正江、朱佩華、徐長(zhǎng)風(fēng)、俞見(jiàn)逸。
本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:
———GB/T13973—1992;
———GB/T13974—1992。

標(biāo)準(zhǔn)目錄

前言 Ⅲ
1 范圍 1
2 規(guī)范性引用文件 1
3 術(shù)語(yǔ)和定義 1
3.1 通用 1
3.2 顯示部分 2
3.3 Y 軸及X 軸偏轉(zhuǎn)部分 2
3.4 階梯部分 3
3.5 集電極掃描部分 3
3.6 其他 4
4 要求 4
4.1 外觀與結(jié)構(gòu) 4
4.2 尺寸和重量 4
4.3 功能正常性 4
4.4 性能特性 4
4.5 功率 8
4.6 安全 8
4.7 環(huán)境適應(yīng)性 8
4.8 包裝運(yùn)輸 10
4.9 電磁兼容性 10
4.10 電源適應(yīng)性 10
4.11 可靠性 10
5 測(cè)試方法 10
5.1 基準(zhǔn)工作條件 10
5.2 檢驗(yàn)條件 11
5.3 測(cè)試要求 11
5.4 外觀與結(jié)構(gòu) 12
5.5 尺寸和重量 12
5.6 功能正常性 12
5.7 性能特性 12
5.8 安全 28
5.9 環(huán)境適應(yīng)性 29
5.10 包裝運(yùn)輸 29
5.11 電磁兼容性 30
5.12 電源適應(yīng)性 30
5.13 可靠性 30
6 質(zhì)量檢驗(yàn)規(guī)則 30
6.1 檢驗(yàn)分類 30
6.2 檢驗(yàn)項(xiàng)目 30
6.3 檢驗(yàn)方法 30
6.4 鑒定檢驗(yàn) 30
6.5 質(zhì)量一致性檢驗(yàn) 32
7 標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯存 34
7.1 標(biāo)志 34
7.2 包裝 34
7.3 運(yùn)輸 34
7.4 貯存 34
8 隨機(jī)文件和備附件 35

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