當前位置:
首頁 >
公法線千分尺檢定規程

Verification Regulation of Common Normal Micrometer
標準號:JJG 82-2010
基本信息
標準號:JJG 82-2010
發布時間:2010-03-02
實施時間:2010-09-02
首發日期:
出版單位:中國計量出版社查看詳情>
起草人:梁玉紅、趙偉榮、全貽智、李旭輝
出版機構:中國計量出版社
起草單位:黑龍江省計量檢定測試院、桂林量具刃具有限責任公司、廣西壯族自治區計量檢測研究院
歸口單位:全國幾何量工程參量計量技術委員會
發布部門:國家質量監督檢驗檢疫總局
主管部門:全國幾何量工程參量計量技術委員會
標準簡介
本規程適用于測量范圍至200mm,分度值為0.01mm的機械公法線千分尺和分辨力為0.001mm的數顯公法線千分尺的首次檢定、后續檢定和使用中檢驗。
標準目錄
1 范圍 (1) 2 引用文獻 (1) 3 概述 (1) 4 計量性能要求 (2) 4.1 測量力 (2) 4.2 刻線寬度及寬度差 (2) 4.3 微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離 (2) 4.4 微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對位置 (2) 4.5 測量面及校對用量桿工作面的表面粗糙度 (2) 4.6 測量面的平面度 (2) 4.7 示值誤差 (2) 4.8 校對用量桿尺寸偏差和尺寸變動量 (3) 4.9 漂移 (3) 5 通用技術要求 (3) 5.1 外觀 (3) 5.2 各部分相互作用 (4) 6 計量器具控制 (4) 6.1 檢定條件 (4) 6.2 檢定項目 (4) 6.3 檢定方法 (5) 6.4 檢定結果的處理 (7) 6.5 檢定周期 (7) 附錄A 數顯公法線千分尺示值誤差測量結果的不確定度評定 (8) 附錄B 檢定證書和檢定結果通知書內頁格式 (12) |
推薦檢測機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構,邀您申請入駐~
推薦認證機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構,邀您申請入駐~
推薦培訓機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構,邀您申請入駐~