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電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)試方法 已作廢

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for dielectric loss angle tangent value

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 5594.4-1985

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 5594.4-1985
發(fā)布時(shí)間：1985-11-27
實(shí)施時(shí)間：1986-12-01
首發(fā)日期：1985-11-27
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：徐延獻(xiàn)
作廢日期：2016-01-01
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類：  >>>>L32
ICS分類：  31.030
提出單位：中華人民共和國(guó)電子工業(yè)部
起草單位：天津大學(xué)
歸口單位：中華人民共和國(guó)電子工業(yè)部
發(fā)布部門：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
主管部門：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)定電子器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料在頻率1MHz、溫度從室溫至500℃條件下的介質(zhì)損耗角正切值。

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