
Magnetic particle flaw detectors
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):JB/T 8290-1998
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):JB/T 8290-1998
發(fā)布時(shí)間:1998-06-15
實(shí)施時(shí)間:1998-12-01
首發(fā)日期:
出版單位:機(jī)械工業(yè)出版社查看詳情>
起草人:
作廢日期:2012-04-01
出版機(jī)構(gòu):機(jī)械工業(yè)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: X射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器
ICS分類:無損檢測(cè)
歸口單位:全國(guó)試驗(yàn)機(jī)標(biāo)委會(huì)
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
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