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外延釘缺陷的檢驗方法

基本信息
標準號:YS/T 24-1992
發布時間:1992-03-09
實施時間:1993-01-01
首發日期:
起草人:施海青、金勝祖
作廢日期:2016-09-01
標準分類: 半金屬與半導體材料綜合
ICS分類:半導體材料
提出單位:中國有色金屬工業總公司標準計量研究所
起草單位:L海有色金屬研究所
發布部門:中國有色金屬工業總公司
標準簡介
本標 準 規 定了外延釘缺陷的檢驗方法本標 準 適 用于任何直徑與晶向的硅外延片上高度不小于4,u m 的釘缺陷存在與否的判斷。如果釘缺陷比少且 彼此不相連,本標準可用十釘缺陷的汁數。本標 準 不 能測量釘缺陷的高度
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