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無(wú)損檢測(cè) 磁記憶檢測(cè) 總體要求

Non-destructive testing—Magnetic memory testing—General requirements
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 26641-2021
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 26641-2021
發(fā)布時(shí)間:2021-12-31
實(shí)施時(shí)間:2022-07-01
首發(fā)日期:
出版單位:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:胡斌、王寶軒、沈永娜、沈功田、林俊明、李路明、李寰、魏東、潘金平、胡云、張亦良、高廣興、張君嬌、張迪、梁玉梅、陳翠麗
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi): 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類(lèi):無(wú)損檢測(cè)
提出單位:全國(guó)無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 56)
起草單位:中國(guó)特種設(shè)備檢測(cè)研究院、愛(ài)德森(廈門(mén))電子有限公司、安徽華夏高科技開(kāi)發(fā)有限責(zé)任公司、清華大學(xué)、中國(guó)空氣動(dòng)力研究與發(fā)展中心、嘉興市特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)院、成都信息工程大學(xué)、北京工業(yè)大學(xué)、中冶建筑研究總院有限公司、山東科捷工程檢測(cè)有限公司、洛陽(yáng)LYC軸承有限公司
歸口單位:全國(guó)無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 56)
發(fā)布部門(mén):國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本文件規(guī)定了金屬磁記憶(MMM)技術(shù)的無(wú)損檢測(cè)(NDT)的術(shù)語(yǔ)和定義,以及應(yīng)用該方法的總體技術(shù)要求。本文件中規(guī)定的術(shù)語(yǔ)是強(qiáng)制性的,適用于使用金屬磁記憶技術(shù)的所有類(lèi)型無(wú)損檢測(cè)文件和文獻(xiàn)。
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