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鋁及鋁合金陽極氧化氧化膜厚度的測(cè)量方法 第3部分：分光束顯微鏡法 現(xiàn)行

Anodizing of aluminium and its alloys—The measuring method of thickness of anodic oxide coatings—Part 3:Split-beam microscope method

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 8014.3-2005

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 8014.3-2005
發(fā)布時(shí)間：2005-07-04
實(shí)施時(shí)間：2005-12-01
首發(fā)日期：1987-06-26
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：朱祖芳、李永豐、熊進(jìn)平、戴悅星、譚群燕、章吉林
出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 金屬化學(xué)性能試驗(yàn)方法
ICS分類：金屬鍍層
提出單位：中國有色金屬工業(yè)協(xié)會(huì)
起草單位：北京有色金屬研究總院
歸口單位：全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢驗(yàn)總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門：中國有色金屬工業(yè)協(xié)會(huì)

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本部分規(guī)定了用分光束顯微鏡測(cè)定鋁及鋁合金陽極氧化膜厚度的無損測(cè)定方法。本部分適用于膜厚大于10μm的一般工業(yè)用氧化膜，或膜厚不小于5μm的表面平滑的氧化膜。本部分不適用于深色氧化膜或表面粗糙的氧化膜。

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