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波片相位延遲測(cè)量裝置的校準(zhǔn)方法

Calibration method for measurement equipment of wave plate phase retardation
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 26827-2011
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 26827-2011
發(fā)布時(shí)間:2011-07-29
實(shí)施時(shí)間:2011-12-01
首發(fā)日期:2011-07-29
出版單位:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:張書(shū)練、劉維新、丁銘
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 光學(xué)儀器綜合
ICS分類:光學(xué)設(shè)備
提出單位:中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)
起草單位:清華大學(xué)
歸口單位:全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 103)
發(fā)布部門:中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門:全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 103)
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了對(duì)波片相位延遲測(cè)量裝置進(jìn)行校準(zhǔn)的術(shù)語(yǔ)和定義、測(cè)量原理、校準(zhǔn)方法和校準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)各種原理的波片相位延遲測(cè)量裝置的精度進(jìn)行校準(zhǔn)。
標(biāo)準(zhǔn)摘要
本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A 為資料性附錄。 本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。 本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC103)歸口。 本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位:清華大學(xué)。 本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:張書(shū)練、劉維新、丁銘。 |
標(biāo)準(zhǔn)目錄
前言 Ⅲ 1 范圍 1 2 規(guī)范性引用文件 1 3 術(shù)語(yǔ)和定義 1 4 測(cè)量原理 2 5 校準(zhǔn)方法 3 5.1 概述 3 5.2 校準(zhǔn)裝置 3 6 校準(zhǔn) 3 6.1 絕對(duì)校準(zhǔn)法 3 6.2 比較校準(zhǔn)法 4 6.3 校準(zhǔn)結(jié)果形式 5 附錄A (資料性附錄) 校準(zhǔn)裝置的說(shuō)明 6 A.1 基于激光頻率分裂原理的波片相位延遲基準(zhǔn)測(cè)量裝置 6 A.2 標(biāo)準(zhǔn)波片 8 A.3 晶體石英最大雙折射率Δnλ計(jì)算用表(Δnλ=ne-no為24.8℃下由分析式得到的計(jì)算值) 8 |
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