電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 振鈴波抗擾度試驗 現(xiàn)行
Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniques—Ring wave immunity test
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 17626.12-2013
GB/T17626的本部分是關(guān)于運(yùn)行狀態(tài)下的電子電氣設(shè)備抵御由公共或非公共網(wǎng)絡(luò)中低壓電源、控制和信號線產(chǎn)生的非重復(fù)的衰落振蕩瞬態(tài)現(xiàn)象(振鈴波)的抗擾度要求和測試方法。本部分的目的是為在試驗室中評估居住、商業(yè)和工業(yè)應(yīng)用中的電子電氣設(shè)備的性能建立抗擾度要求和共同參考,同樣也適用于發(fā)電站和變電站的設(shè)備。注:如IEC導(dǎo)則107所述,這是由IEC產(chǎn)品委員會使用的電磁兼容基礎(chǔ)出版物。導(dǎo)則107還提及IEC的產(chǎn)品委員會負(fù)責(zé)決定是否采用本部分中的抗擾度試驗。如果得到采用,他們還負(fù)責(zé)確定適當(dāng)?shù)脑囼灥燃壓托阅芘袚?jù)。全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會和其分委員會可以和產(chǎn)品委員會進(jìn)行合作,以評估產(chǎn)品采用特定的抗擾度試驗的意義。本部分的目的在于規(guī)定:———試驗電壓和電流波形;———試驗等級的范圍;———試驗設(shè)備;———試驗布置;———試驗流程。
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GB/T17626《電磁兼容 試驗和測量技術(shù)》包括以下部分: ———GB/T17626.1—2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 抗擾度試驗總論; ———GB/T17626.2—2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗; ———GB/T17626.3—2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗; ———GB/T17626.4—2008 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗; ———GB/T17626.5—2008 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗; ———GB/T17626.6—2008 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度; ———GB/T17626.7—2008 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、諧間波的測 量和測量儀器導(dǎo)則; ———GB/T17626.8—2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 工頻磁場抗擾度試驗; ———GB/T17626.9—2011 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 脈沖磁場抗擾度試驗; ———GB/T17626.10—1998 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 阻尼振蕩磁場抗擾度試驗; ———GB/T17626.11—2008 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗 擾度試驗; ———GB/T17626.12—2013 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 振鈴波抗擾度試驗; ———GB/T17626.13—2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號的低頻抗擾度試驗; ———GB/T17626.14—2005 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 電壓波動抗擾度試驗; ———GB/T17626.15—2011 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 閃爍儀 功能和設(shè)計規(guī)范; ———GB/T17626.16—2007 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 0Hz~150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗; ———GB/T17626.17—2005 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗; ———GB/T17626.24—2012 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) HEMP 傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗方法; ———GB/T17626.27—2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 三相電壓不平衡抗擾度試驗; ———GB/T17626.28—2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 工頻頻率變化抗擾度試驗; ———GB/T17626.29—2006 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗; ———GB/T17626.30—2012 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 電能質(zhì)量測量方法; ———GB/T17626.34—2012 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 主電源每相電流大于16A 的設(shè)備的電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗。 本部分為GB/T17626的第12部分。 本部分按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。 本部分代替GB/T17626.12—1998《電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 振蕩波抗擾度試驗》。本部分與GB/T17626.12—1998相比,除編輯性修改外,主要技術(shù)變化如下: ———變更了標(biāo)準(zhǔn)名稱(見封面); ———刪除了阻尼振蕩波的相關(guān)內(nèi)容(見第6章); ———刪除了定義和縮略語中的“EUT”、“脈沖群”,修改了“耦合”、“耦合網(wǎng)絡(luò)”,增加了“猝發(fā)”、“校準(zhǔn)”、“校驗”(見第3章); ———修改了概述,將原標(biāo)準(zhǔn)的概述和附錄A 進(jìn)行了整合(見第4章); ———修改了試驗等級,將原標(biāo)準(zhǔn)的試驗等級和附錄B中的部分內(nèi)容進(jìn)行了整合(見第5章); ———修改了試驗設(shè)備,結(jié)合原標(biāo)準(zhǔn)的附錄C進(jìn)行了重新修訂(見第6章); ———修改了氣候條件要求(見第8章); ———修改了試驗結(jié)果的評定方法(見第9章); ———修改了試驗報告的要求(見第10章); ———刪除了原標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄C、附錄D以及附錄B的部分內(nèi)容,將原標(biāo)準(zhǔn)附錄B的部分內(nèi)容修訂為本部分的附錄A(見附錄A)。 本部分使用翻譯法等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-12:2006《電磁兼容(EMC) 第4-12部分:試驗和測量技術(shù)振鈴波抗擾度試驗》。 與本部分中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下: ———GB/T4365—2003 電工術(shù)語 電磁兼容[IEC60050(161):1990,IDT] 本部分進(jìn)行了下列編輯性修改: ———刪除了國際標(biāo)準(zhǔn)的前言和引言,將有關(guān)內(nèi)容寫入本部分前言中; ———“IEC61000-4的本部分”改為“GB/T17626的本部分”; ———規(guī)范性引用文件中增加了IEC60050(161) 國際電工詞匯(IEV) 第161章:電磁兼容InternationalElectrotechnicalVocabulary (IEV)—Chapter161:Electromagneticcompatibility] 。 本部分由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC246)提出并歸口。 本部分起草單位:中國電子科技集團(tuán)公司第三研究所、上海電器科學(xué)研究院、上海市計量測試技術(shù)研究院。 本部分主要起草人:朱琳、徐嵬、邢琳、龔增、馬效愚、林京平。 本部分于1998年首次發(fā)布,本次為第一次修訂。 |
| 前言 Ⅰ 1 范圍 1 2 規(guī)范性引用文件 1 3 術(shù)語和定義 1 4 概述 2 4.1 現(xiàn)象的描述 2 4.2 相關(guān)參數(shù) 3 5 試驗等級 4 6 試驗設(shè)備 4 6.1 試驗信號發(fā)生器 4 6.2 耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)技術(shù)規(guī)范 6 7 試驗布置 7 7.1 電源端口試驗 8 7.2 輸入/輸出端口試驗 8 7.3 通信端口試驗 8 7.4 接地 9 7.5 受試設(shè)備 9 7.6 耦合/去耦網(wǎng)絡(luò) 10 8 試驗程序 10 8.1 試驗室參考條件 10 8.2 試驗實施 10 9 試驗結(jié)果評定 12 10 試驗報告 12 附錄A (資料性附錄) 振鈴波試驗等級信息 18 參考文獻(xiàn) 19 |
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